- 高速組件測試率每秒40步次
- 最少探針距離是 0.2 毫米
- 探針精度 +/- 100 微米
- 移動重複精度 +/- 50 微米
- 減低運作成本
- 短路 / 開路測試功能, 測試元件範圍包括電阻,電容, 電感, 二極體, 電晶體, 極性, 數字電晶體,等等
- 獨立測定電阻,電容,電感,使測試率提高
- 可選配IC浮足檢測Hiscan, 低電阻測定
供應商: Hioki
型號: 1240
- 高速組件測試率每秒40步次
- 最少探針距離是 0.2 毫米
- 探針精度 +/- 100 微米
- 移動重複精度 +/- 50 微米
- 減低運作成本
- 短路 / 開路測試功能, 測試元件範圍包括電阻,電容, 電感, 二極體, 電晶體, 極性, 數字電晶體,等等
- 獨立測定電阻,電容,電感,使測試率提高
- 可選配IC浮足檢測Hiscan, 低電阻測定
供應商: Hioki
型號: 1240
- 高速組件測試率每秒40步次
- 最少探針距離是 0.2 毫米
- 探針精度 +/- 100 微米
- 移動重複精度 +/- 50 微米
- 減低運作成本
- 短路 / 開路測試功能, 測試元件範圍包括電阻,電容, 電感, 二極體, 電晶體, 極性, 數字電晶體,等等
- 獨立測定電阻,電容,電感,使測試率提高
- 可選配IC浮足檢測Hiscan, 低電阻測定
